因为陶瓷电容稳定,绝缘性好,耐高压,且价格相对地便宜,所以在电子元器件市场中中占不少份额,其外观呈蓝色居多,随着电子技术不断地升级进步,瓷片电容在发展有长足的发展,并可广泛地应用。
其陶瓷电容环境条件对测量结果的影响:依照载体区别可分为类I瓷介电容和II类瓷介电容,一贯NP0,SL0,COG是I类瓷介电容,X7R,X5R,Y5U,Y5V是II类瓷介电容,在不同的作工温度情况下,电荷储藏会有相对明显地改变,在差异的工作温度下,电容标称容量与实质容值界限的不同。比如在50℃时的测试容量和30℃时的测试容量有差异。所以我们不难看出,在内外环境温度相比高的状况下,电容的容值测量结果就会明显偏低。因此小编提倡放置在25℃的条件下,10-30分钟时间,让原料居于稳固的测试环境下再来容值测量。
陶瓷电容材料退化的基本现象:原料退化是指电容器的容值范围因时间下降的形势,这再全部以瓷系材料做绝缘体的材料物品中都有产生,是一种自然但避免不了的形势。因由是由于内部晶体形态随温度和时间导致了变化让其容值降低,归属可逆原理。
当对退化的原料提供超出材料居里点期间中,当环境温度复原到室温后,原料的分子组织就折回最初的形态。材料就会开始老化的不断循环,陶瓷电容的容值将回复到正常标准中。
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