CL21-250V-475J薄膜电容

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CL21-250V-475J薄膜电容详细参数

所属分类:金属薄膜电容器
产品型号:CL21-250V-475J
温度特性:聚乙酯
电容量:4.7μF
标准偏差:J±5%
本体直径:32mm
本体厚度:22mm
本体高度:14mm
引线间距:27.5mm
引线长度:3~20mm
引线直径:0.8mm
包封长度:无mm
额定电压:250VDC
耐压:462.5V
更新时间:
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电容器由很多基础元件材料组成,所以电容器是很复杂的元器件。许多小厂在生产电容器因偷工减料的原因,导致很多电容器介质存在杂质,清洁度低,以至于损坏了机械。

造成电容器损坏基本原因有很多。高压电容器:通常是由多个元件合并连接组成,每个元件由铝箔作电极,将固体介质放于电极之间,经卷绕而制成。元件的极板面积很大,由于原材料及制造工艺等原因,就会导致开头写的一系列问题,这就增加了电容器的使用隐患。

在系统中受各种原因引起的过电压,过电流及周围高、低温度的作用,这些薄弱点便引起介质击穿。击穿时通常会产生火花,进一步的扩大范围,从而形成多层短路甚至整个元件短路。与击穿元件串联的元件上的电压将会随之升高,与其并联的元件组会被短接,从而使剩余的串联组上的电压随之升高,通过每个元件的电流也随之增大。将导致各个元件的迅速老化,增加发热量。同时在较高电压作用下也将产生极板边缘的局部放电。加之击穿点的放电,会使浸渍剂放出大量气体,经过一定时间后,与故障元件串联的整个串联组的其他元件会相继击穿,又会有新的串联组被短接。串联组数进一步减少,元件电压进一步提高,过电流现象更为严重,介质进一步恶化,温度进一步升高,电弧会进而增大,浸渍剂会进一步放出气体,如此下去,元件损坏越来越多,箱壳膨胀越来越严重。在这种情况下保护熔丝、继电保护应及时将故障电容器切除,如不能切除,进一步的击穿会在箱壳中形成强烈电弧,其他并联电容器和系统能量的涌人,会在很短时间内使电容器介质迅速老化、膨胀,最后导致箱壳膨胀,严重者会发生爆炸。这种事故对于用户来说是无法消除的,它属于电容器的早期损坏,周期通常为一年左右。

关键词:CL21电容器475J250VDC4.7μF聚乙酯5%,薄膜电容475J,CL21电容

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