CL21-250V-223J薄膜电容

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CL21-250V-223J薄膜电容详细参数

所属分类:金属薄膜电容器
产品型号:CL21-250V-223J
温度特性:聚乙酯
电容量:0.022μF
标准偏差:J±5%
本体直径:11.5mm
本体厚度:8.5mm
本体高度:5.5mm
引线间距:7.5mm
引线长度:3~20mm
引线直径:0.6mm
包封长度:无mm
额定电压:250VDC
耐压:462.5V
更新时间:
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随着科技与时代的进步,电容器的质量也有了大大的提升。对于电容器的早期损坏又是存在什么因素呢。电容器由于材料与制造工艺的原因,再生产电容器电容器介质中很容易存在杂质,机械损伤,针孔,清洁度低等问题。电容器所产生的问题是如何形成的,本章节就带着这个问题去寻找答案吧!

造成电容器的早期损坏多数由于制造原因。高压电容器通常由多个元件申并联构成,每个元件由铝箔作电极,将固体介质放于电极之间经卷绕而制成。元件的极板面积很大由于原材料及制造工艺等原因,介质中可能存在杂质,机械损伤。针孔、清洁度低等问题,这就成了电容器固有的隐患。在系统中受各种原因引起的过电压,过电流及周围高低温度的作用,这些薄弱点便引起介质击穿。击穿时通常会产生火花,进一步的扩大范围从而形成多层短路甚至整个元件短路。

击穿元件串联的元件上电压将会随之升高,与其并联的元件组会被短接,从而使剩余的串联组上的电压随之升高,通过每个元件的电流也随之增大。将导致各个元件的迅速老化,增加发热量,同时在较高电压作用下也将产生极板边缘的局部放电。加之击穿点的放电会使浸渍剂放出大量气体,经过一定时间后与故障元件串联的整个串联组的其他元件会相继击穿。又会有新的串联组被短接,串联组数进一步减少,元件电压进一步提高过电流现象更为严重,介质进一步恶化,温度进一步升高电弧会进而增大。浸渍剂会进一步放出气体,这样下去,元件损坏越来越多,箱壳膨胀越来越严重。

在这种情况下保护熔丝继电及时将故障电容器切除,如不能切除进一步的击穿会在箱壳中形成强烈电弧。其他并联电容器和系统能量,会在很短时间内使电容器介质迅速老化、膨胀,最后导致箱壳膨胀,严重者会发生爆炸。这种事故对于用户来说是无法消除的,它属于电容器的早期损坏,周期通常为一年左右。在电容器方面作为制造商要注重品质,加强加强检测手段,以求减少早期损坏率。

关键词:CL21电容器223J250VDC0.022μF聚乙酯5%,薄膜电容223J,CL21电容

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