CBB21-400V-823J薄膜电容

薄膜电容器是以金属箔当电极，将其和聚乙酯，聚丙烯，聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜，从两端重叠后，卷绕成圆筒状的构造之电容器。薄膜电容的损耗由什么引起的呢，多方面解析原因。

薄膜电容器的tgδ除与温度、频率有关外，还受其它许多因素的累响，如电压、湿度等在一般结构的电容器中，如不考虑电压增大引起的电容器发热，从而使损耗有所增大时，损耗tgδ与电压的关系很小，但当薄膜电容器具有夹层式极化损耗、自发极化损耗以及电离损耗寸，其tgδ将随电压发生显著的变化。

薄膜电容器介质本身或介质与介质及介质与极板之间存在空隙时，当电压足够高时，气隙的电离将引起损耗tgδ迅速增大。在电离损耗中，除了由于气隙电离引起的损耗外，还有一种所请闪跞效应”引起的损耗。

由于工艺不佳，在极板边缘可能会含有不连续金属膜层和孤立的导电徵粒，在较高电压作用下，它们之间会发生微放电现象，这就是所谓的闪烁效应”。潮是对薄膜电容器损耗的影响也十分明显，在潮湿环境中，电容器表面上逐渐凝结水分，形成水膜，使表面漏导电流增大，导致损耗tgδ增大。此外，当水分子进入介质时，会改变材料的性能，同时会增大金属层的氧化和腐蚀，促使薄膜电容器早期失效。