CBB21-250V-684J薄膜电容

薄膜电容器在高频状态下的损耗主要是金属损耗，主要有:电容器引出线损耗、电容器极板损耗以及接触損耗。现在薄膜电容器使用的引出线为镀锡铜包钢线或镀锡铜线，它们自身的损耗极小，可忽略不计。所以高频条件下薄膜电容器的损耗主要是极板损耗以及接触损耗。在薄膜电容器生产过程中，注重从以下几方面解决。

1）箔式薄膜电容器使用的电极材料是铝箔，要求其厚度均匀、导电性良好、没有腐蚀现象铝箔端面没有磕碰。

2）金属化薄膜电容器使用的材料是金属化薄膜，它是把金属铝（或其它金属）用真空蒸发方式沉积在介质表面，这样可缩小电容器的体积，提高电容器的自愈性，降低电容器的成本。但是由于薄膜在真空蒸镀过程中或是金属化薄膜在分切过程中以及卷绕电容器芯子过程中容易出现薄膜的金属化层划伤，这对金属化薄膜电容器是致命的伤害，它将导致电容器极板耗的增加用户上机使用这样的电容器后果非常严重，要坚决禁止这样的电容器出厂。

作为薄膜电容厂家我们会加强入厂金属化薄膜的抽样检验，除对金属化薄膜的电性能、厚度、宽度、外观、金属层的方阻检验外，还要检验薄膜上金属层的附着力、金属层上是否有疵点以及金属层上是否有划伤。不合格原材料不能进厂。

其次要加强卷绕工序生产过程中检验和巡检，电容器芯子经过的检查，合格后才能批量生

产；在批量生产过程中，加强对电容器芯子的巡检，发现问题及时解决，保证卷绕工序的产品质。对于要末髙频损耗的薄膜电容器，工序抽检其損耗，在抽检过程中，发现异常，要及时对该批产品进行试验，试验合格下转，如果试验不合格，该批产品要进行降级或报废处理。